现代制造工程 ›› 2021, Vol. 490 ›› Issue (7): 103-108.doi: 10.16731/j.cnki.1671-3133.2021.07.016

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基于线结构光的超精密齿轮齿距偏差测量分析

余石鹏,赵运才,王得峰,任继华   

  • 出版日期:2021-08-03 发布日期:2021-08-03
  • 基金资助:
    国家重点研发项目计划资助项目(2018YFB2001400)

  • Online:2021-08-03 Published:2021-08-03

摘要: 超精密齿轮精度要求高,使用接触式测量容易造成齿面损伤,影响精度,且只有少部分的接触式测量设备能达到微米级别,测量效率低,所以因为效率、精度的原因无法满足超精密齿轮的测量需求;故从诸多测量方法中选取了线结构光测量系统,对基于线结构光的超精密齿轮齿距偏差测量进行了分析研究。根据ISO 1328—1:2013《圆柱齿轮精度标准》中齿距偏差项目的定义,通过线结构光测量系统对模数为3.0 mm,齿数为30的2级精度渐开线圆柱直齿轮样板进行了齿距偏差测量,得到了左、右齿面的单个齿距偏差分别为1.71μm和1.73μm,以及左、右齿面的齿距累积总偏差分别为5.43μm和5.70μm,并分别与ISO 1328—1:2013和GB/T 10095.1—2008中单个齿距偏差和齿距累积总偏差的许用值进行对比,证明了该线结构光测量系统能够实现超精密齿轮的非接触式测量。

关键词: 齿距偏差;非接触式测量;线结构光;超精密齿轮

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